Спектрометр Epsilon 4 для аналізу полімерів, пластмас та фарб

Прості у використанні процедури вимірювання та низьке енергоспоживання обладнання дозволяють виконувати відтворюваний аналіз поруч із виробничою лінією та на кількох виробничих майданчиках. Прилад Epsilon 4 забезпечує надійні результати протягом кількох місяців без повторного калібрування. Завдяки цьому стає ще простіше контролювати якість продукції.

     Функції
Переваги настільної системи XRF
Завдяки поєднанню новітніх технологій збудження та виявлення та компактного дизайну аналітична продуктивність спектрометрів Epsilon 4 наближається до продуктивності потужніших спектрометрів для підлоги. Селективне збудження та точне поєднання потужності рентгенівської трубки з можливостями детектора є основою високої продуктивності системи.

Уникальные решения для задач, связанных с полимерами

Доступ к правильным калибровочным образцам является ключевым элементом XRF. Для производства пластмасс и полимеров мы разработали уникальные калибровочные решения, которые обеспечивают точный анализ добавок и остатков катализаторов (ADPOL), токсичных элементов (TOXEL) и соответствие RoHS (RoHS) согласно стандартам ASTM F2617 и IEC 62321-3-1.

     Швидкість та чутливість
Висока швидкість вимірювань досягається завдяки використанню новітньої технології кремнієвого дрейфового детектора, що створює набагато більш високу інтенсивність.
Унікальна електроніка детектора забезпечує лінійну швидкість рахунку понад 1 500 000 імп/с (при 50% мертвого часу) і не залежний від швидкості рахунку дозвіл, що зазвичай перевищує 135 еВ, для кращого поділу аналітичних ліній у спектрі. Це дозволяє спектрометру Epsilon 4 працювати на повній потужності і, отже, досягати набагато вищої швидкості обробки зразків у порівнянні з традиційними настільними приладами EDXRF

   Низькі експлуатаційні витрати
Для Epsilon 4 не потрібно використовувати дорогі кислоти, гази та витяжні ковпаки, як для методів індуктивно зв'язаної плазми (ICP) та атомно-абсорбційної спектроскопії (AAS). Єдиною вимогою є електроживлення від мережі та, в деяких випадках, використання гелію для підвищення чутливості до легких елементів у зразку. Окремі компоненти спектрометрів XRF також не схильні до впливу тертя або тепла, тому їх експлуатація триває багато років.

     Неруйнівний аналіз
Вимірювання за допомогою Epsilon 4 здійснюються безпосередньо на насипних порошках або кінцевій продукції при незначній підготовці або без зразка підготовки. Оскільки рентгенівська флуоресценція є технікою, що не руйнує, при необхідності після неї можна провести аналіз зразка за допомогою інших технік.