Мікроскопи

Скануючі електронні мікроскопи (SEM та FIB-SEM);

Нагрівальні мікроскопи дають змогу легко визначати високотемпературні характеристики великої кількості різних матеріалів (Hesse Instruments)

Скануючі електронні мікроскопи (SEM) сканують зразок сфокусованим електронним пучком і отримують зображення, що містять інформацію про рельєф та склад зразків.

CSEM (звичайні SEM з джерелом термічних електронів) і FE-SEM (польові емісійні SEM з джерелом емісійних електронів) від ZEISS забезпечують високу роздільну здатність зображень і чудовий контраст матеріалів.

• Скануючі електронні мікроскопи (SEM) для академічних та промислових застосувань. Отримайте інформацію про топографію та склад вашого зразка.. Високороздільна інформація про чутливі поверхні та контраст матеріалів.
• Скануючі електронні мікроскопи зі сфокусованим іонним пучком. Для наукових і рутинних досліджень.

Понад 20 років компанія Hesse Instruments розробляє та випускає випробувальне обладнання та програмне забезпечення для термічного аналізу матеріалів в лабораторних умовах.

Hesse Instruments випускає комплексні випробувальні системи, які дають змогу легко визначати високотемпературні характеристики великої кількості різних матеріалів. З температурою печі до 1750°C, з максимальною температурою на зразку до 1650°C.

Основною продукцією Hesse Instruments є нагрівальні мікроскопи для аналізу характеристик розм'якшення і плавлення матеріалів. Ми також пропонуємо широкий асортимент високоякісних аксесуарів та витратних матеріалів, а також оригінальні запасні та швидкозношувані деталі.

Крім того, ми адаптуємо нагрівальні мікроскопи до індивідуальних вимог замовника.