Микроскопы

Сканирующие электронные микроскопы (SEM и FIB-SEM)

Нагревательные микроскопы позволяют легко определять высокотемпературные характеристики большого количества различных материалов (Hesse Instruments)

Сканирующие электронные микроскопы (SEM) сканируют образец сфокусированным электронным пучком и получают изображения, содержащие информацию о рельефе и составе образцов.

CSEM (обычные SEM с источником термических электронов) и FE-SEM (полевые эмиссионные SEM с источником эмиссионных электронов) от ZEISS обеспечивают высокое разрешение изображений и превосходный контраст материалов.

• Сканирующие электронные микроскопы (SEM) для академических и промышленных применений. Получите информацию о топографии и составе вашего образца. Высокоразрешающая информация о чувствительных поверхностях и контрасте материалов.
• Сканирующие электронные микроскопы со сфокусированным ионным пучком. Для научных и рутинных исследований.

Более 20 лет компания Hesse Instruments разрабатывает и выпускает испытательное оборудование и программное обеспечение для термического анализа материалов в лабораторных условиях.

Hesse Instruments выпускает комплексные испытательные системы, которые позволяют легко определять высокотемпературные характеристики большого количества различных материалов. С температурой печи до 1750°C, с максимальной температурой на образце до 1650°C.

Основной продукцией Hesse Instruments являются нагревательные микроскопы для анализа характеристик размягчения и плавления материалов. Мы также предлагаем широкий ассортимент высококачественных аксессуаров и расходных материалов, а также оригинальные запасные и быстроизнашивающиеся детали.

Кроме того, мы адаптируем нагревательные микроскопы к индивидуальным требованиям заказчика.